Esquema de enfriamiento en la metaheurística de recocido simulado

Autores/as

Palabras clave:

metaheurísticas, recocido simulado, parámetros de control, enfriamiento, estado óptimo

Resumen

Este artículo estudia el esquema de enfriamiento, el cual está determinado por los parámetros de control. Estos parámetros –temperatura inicial, final, Cadena de Markov y decremento de temperatura– son la base para el éxito en la convergencia de la metaheurística de recocido simulado, la cual garantiza la resolución de un problema de optimización combinatoria. El método de recocido simulado traslada el proceso de recocido a la solución de un problema de optimización combinatoria. La función que es objetivo del problema, similar a la energía del material, es minimizada (o maximizada) con la ayuda de una temperatura, la cual es un parámetro de control del algoritmo. Este parámetro debe tener el mismo efecto que la temperatura del sistema físico: conducir hacia el estado óptimo.

Biografía del autor/a

Jesús del Carmen Peralta-Abarca, Facultad de Ciencias Químicas e Ingeniería, Universidad Autónoma del Estado de Morelos

Profesora Investigadora de Tiempo Completo Asociada B

Ingeniería Industrial

Facultad de Ciencias Químicas e Ingeniería.

Juana Enríquez-Urbano , Universidad Autónoma del Estado de Morelos

Profesora de asignatura en la FCQeI y estudiante de doctorado en Ciicap

Beatriz Martínez-Bahena, Universidad Autónoma del Estado de Morelos

Profesora de asignatura en la FCQeI

Alfonso D'Granda-Trejo, Universidad Autónoma del Estado de Morelos

Profesor de asignatura de la FCAeI y estudiante del doctorado en Ciicap

Citas

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Esquema de enfriamiento en la metaheurística de recocido simulado

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Publicado

2021-09-07

Cómo citar

Peralta-Abarca, J. del C., Enríquez-Urbano , J. ., Martínez-Bahena, B. ., & D’Granda-Trejo, A. . (2021). Esquema de enfriamiento en la metaheurística de recocido simulado. Inventio, 14(32), 37–42. Recuperado a partir de https://inventio.uaem.mx/index.php/inventio/article/view/147

Número

Sección

Ciencia y tecnología

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